貼片晶振的測試方法（晶振測試儀）
產(chǎn)品簡介：
一、CX-117A是高性價(jià)比的晶振測試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了智能化測量。本系列儀器采用倒數(shù)計(jì)數(shù)技術(shù)實(shí)現(xiàn)等精度測量。它測量精度高，靈敏度高，速度快，閘門時(shí)間可選；具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計(jì)數(shù)等功能；中心頻率（標(biāo)稱頻率）F0、分檔值Pr1 ～Pr8 (ppm) 、上限頻率FU 、下限頻率FL可任意設(shè)定并能存儲(chǔ)。該機(jī)前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)的生產(chǎn)和科研之用。。
具有PPM測量功能，預(yù)置頻率F0可任意設(shè)置。該功能特別適合于晶體振動(dòng)器生產(chǎn)企業(yè)，測試結(jié)果顯示直觀。
主要功能：頻率測量，PPM測量，周期測量，數(shù)據(jù)累計(jì) ，功能設(shè)定
　　
二、主要技術(shù)指標(biāo)：
頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度：30mv
PPm測量：3KHz — 100MHz
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可擴(kuò)展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設(shè)定
誤差設(shè)置范圍設(shè)定：± 1 — ± 999 PPm任意設(shè)定。
閘門設(shè)置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，
1檔閘門1ms — 10s可設(shè)，
每1mS為一階梯任意設(shè)定。
周期測量范圍：100 ms — 10 s
晶振穩(wěn)定性：5 ×10-7 / 日
（可選 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
時(shí)基頻率：OCXO--10MC

三、特點(diǎn)：
微機(jī)控制，可編程器件開發(fā)， 模塊化設(shè)計(jì)
100MHz同步等精度測量方式
SMT貼裝生產(chǎn)、工藝，全新小型化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
9位LED顯示
PPm提示功能

四、可選配：
晶體測量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

 
晶體振蕩器測試座： 有貼片和插件2種可選，貼片測試座需要安裝在插件測試座上方能使用。