2013年1月7日丹納赫(上海)工業(yè)儀器技術(shù)研發(fā)有限公司從我司訂購(gòu)IP防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)探棒（IP1X，IP2X，IP3X，IP4X）

訂購(gòu)清單如下：
IP防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)探棒（IP1X，IP2X，IP3X，IP4X）
IP防護(hù)等級(jí)試驗(yàn)探棒，IP1X，IP2X，IP3X，IP4X
IP1帶球試驗(yàn)探棒|IEC61032圖1|Test probe A
基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。
2、A類(lèi)試驗(yàn)探棒（A類(lèi)試驗(yàn)探球）是進(jìn)行家用和類(lèi)似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
技術(shù)參數(shù)：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：50mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長(zhǎng)度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字1）。

基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。
2、A類(lèi)試驗(yàn)探棒（A類(lèi)試驗(yàn)探球）是進(jìn)行家用和類(lèi)似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
技術(shù)參數(shù)：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：50mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長(zhǎng)度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字1）。

12.5MM試驗(yàn)探IP2X基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)DIN40050等相應(yīng)條款制作而成。
2、12.5MM試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類(lèi)似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
技術(shù)參數(shù)：
1、探球直徑：12.5mm
2、檔板厚度：4mm
3、檔板直徑：10mm
4、手柄直徑：4mm
IP1試具A探棒IP2|試具B探棒|IP3試具C探針|IP4試具D探針

IP1帶球試驗(yàn)探棒|IEC61032圖1|Test probe A
基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。

技術(shù)參數(shù)：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：50mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長(zhǎng)度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖1(Test probe A) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字1）。

IP2試驗(yàn)探棒|IEC61032圖2|Test probe B
產(chǎn)品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標(biāo)準(zhǔn)要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗(yàn)的防護(hù)檢驗(yàn)。

基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)GB4706.1-2005、GB2099.1-2008及相關(guān)IEC61032、UL等相應(yīng)條款制作而成。

技術(shù)參數(shù)：
1、彎指直徑：12 mm
2、彎指長(zhǎng)度：80mm（三節(jié)總長(zhǎng)度）
3、擋板直徑：50mm
4、擋板長(zhǎng)度：100mm
5、參考標(biāo)準(zhǔn)：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2
IP3X試驗(yàn)探針|IEC61032圖3|Test probe C
基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。

技術(shù)參數(shù)：
1、探棒長(zhǎng)度：100mm
2、探棒直徑：2.5mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長(zhǎng)度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字3）。
7.使用方法：如圖所示，標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險(xiǎn)部件，并且35mm的圓擋板不能進(jìn)入。
防止接近危險(xiǎn)部件的試驗(yàn)要求中，C、D型試驗(yàn)探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請(qǐng)配合推拉力計(jì)使用。
8.注意事項(xiàng)：請(qǐng)不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請(qǐng)使用分辨精度至少為0.033N儀器對(duì)C、D型試驗(yàn)探棒進(jìn)行校準(zhǔn)。由于試驗(yàn)探棒較為精密機(jī)械產(chǎn)品，使用時(shí)請(qǐng)輕拿輕放，妥善保管。
試驗(yàn)探棒頂部可能會(huì)生銹，注意保養(yǎng)防護(hù)。

IP4X試驗(yàn)探針|IEC61032圖3|Test probe D
基本簡(jiǎn)介：
1、根據(jù)GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應(yīng)條款制作而成。

技術(shù)參數(shù)：
1、探棒長(zhǎng)度：100mm
2、探棒直徑：1mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長(zhǎng)度：100mm
6、根據(jù)IEC61032圖4(Test probe D) 、GB/T4208-2008表6（位特征數(shù)字4/5/6）。
7.使用方法：如圖所示，標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險(xiǎn)部件，并且35mm的圓擋板不能進(jìn)入。
防止接近危險(xiǎn)部件的試驗(yàn)要求中，C、D型試驗(yàn)探棒需帶3±0.3N N或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請(qǐng)配合推拉力計(jì)使用。
8.注意事項(xiàng)：請(qǐng)不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請(qǐng)使用分辨精度至少為0.033N儀器對(duì)C、D型試驗(yàn)探棒進(jìn)行校準(zhǔn)。由于試驗(yàn)探棒較為精密機(jī)械產(chǎn)品，使用時(shí)請(qǐng)輕拿輕放，妥善保管。
試驗(yàn)探棒頂部可能會(huì)生銹，注意保養(yǎng)防護(hù)。